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AT-ICHBM芯片抗静电测试系统符合标准：IEC61000-4-2,GB/T17626.2、ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017、AEC-Q100-002-REV-E、MIL-STD-883K、GJB548B-2005、AEC-Q100-003E的要求，用于集成电路的人体模型（HBM）静电放电抗扰度试验。
技术参数 | |
放电模型 |
HBM人体放电模型 |
最大放电电压 |
±15kV |
极性 |
正、负 |
放电电容/电阻 |
100PF/1500Ω |
测试通道 |
128通道 |
系统功能 |
抗静电测试系统针对IEC集成电路及各类器件可进行高精度的V/I电源特性测试分析； 系统具备正向电压、正向电流、反向漏电流、伏安特性等性能参数测试和自定义失效判定功能 |
系统具备高可重复性、可重现性检测数据，在闩锁测试和参数测量过程中支持引脚驱动器功能； | |
